高低溫試驗(yàn)箱主要是用于對(duì)電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫、低溫及高低溫漸變的試驗(yàn)箱，可供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。
試驗(yàn)箱在高溫及低溫進(jìn)的溫度均勻度應(yīng)不大于2.0℃。
試驗(yàn)箱的溫度波動(dòng)度高溫時(shí)不大于±0.5℃；低溫時(shí)不大于±1.0℃。
高低溫試驗(yàn)箱工作室內(nèi)壁溫度與空間溫度之差，在高溫下應(yīng)不大于試驗(yàn)箱溫度的3％，在低溫下應(yīng)不超過(guò)8％.
試驗(yàn)箱在滿(mǎn)載條件下，每5min的平均升溫和降溫速率等級(jí)為：不大于1℃/min、1±0.2℃/min、3±0.6℃/min、5±1℃/min.
在高溫條件下，工作空間內(nèi)的絕對(duì)濕度應(yīng)不大于20g/m3(相當(dāng)于35℃時(shí)，相對(duì)濕度為50％)。
工作空間內(nèi)的內(nèi)速應(yīng)可調(diào)。
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